JP-MAPオプション|知的財産戦略の総合サポート

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特許情報検索システム


JP-MAPオプション

最大300,000件までの検索結果に対して出願人や技術分類(IPC)、指定ワードによる統計やグラフ表示を行ったり、引用公報やパテントファミリーの関係を表すパテントマップ作成機能です。出願人、IPC、技術用語などから簡単にグラフを自動作成することが可能です。調査をしながら検索結果を視覚的に把握するのに最適な機能です。

サイテーションマップ(日本特許データベースのみ)

審査官引用・被引用情報の系列を表示します。引用文献の引用文献や、被引用文献の被引用文献など、さかのぼって確認することができます。また、出願人ランキング機能により、その集合の中における出願人の数が分かる他、各公報の情報を参照していただくことも可能です。

サイテーションマップ

80ヶ国ファミリー・80ヶ国サイテーションマップ(日本特許・海外特許データベース共通)

表示中の公報に関して、80ヶ国(日本・米国・欧州・DOCDB収録国)間でパテントファミリーや引用/被引用文献情報が存在する時に、その系列の表示を行います。

  • 80ヶ国ファミリー・80ヶ国サイテーションマップ
  • 80ヶ国ファミリー・80ヶ国サイテーションマップ

パテントマップ集計(日本特許・海外特許データベース共通)

ある集合において、出願人のランキングを作成したり、特定の出願人の時系列の出願件数の推移をグラフ化します。一度分析にかけた結果から、さらに二次集計が可能な他、分析結果のExcelリンク機能によりデータを容易に加工・保存していただくことが可能です。

  • パテントマップ集計
  • パテントマップ集計

分類統計 IPC・FI・Fターム(日本特許データベース)、IPC・CPC(海外特許データベース)

集合間における国際特許分類(IPC)、FI、Fタームの分布率を分析することができます。パテントマップガイダンス情報により分類内容が確認できキーワード検索した結果を絞り込む分類を探すのに適しています。選択した分類を検索に展開するための式を作成することも可能です(コマンドオプション)。

  • パテントマップ集計
  • パテントマップ集計

技術分布マップ(日本特許・海外特許データベース共通)

縦軸と横軸で任意の検索式を登録してそれぞれの集合を掛け合わせることで、各技術の分布や複数視点からの技術開発の集中度を視覚的に分析します。

  • パテントマップ集計
  • パテントマップ集計

 

 

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